胶质层，胶质层指数测定仪，微机胶质层指数测定仪
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胶质层指数的测定方法是苏联列·姆·萨保什尼可夫和列·帕·巴齐列维奇在1932年提出的。此法是模拟工业焦炉的炭化室，通过对特制煤杯中的煤样进行单侧加热，使其形成一系列的等温层面。并使煤杯中煤样相应形成半焦层、胶质层和未软化的煤样层三个部分。利用探针测量出胶质体的最大厚度Y值，试验终了时测得最终收缩度X值。胶质层指数测定仪从最初的自计钟绘制体积曲线，演变到电脑绘制体积曲线。但始终都是由人工去探测胶质体的上下层面。

●   胶质层检测试验是条件试验，必须在国标规定的条件及技术参数下进行，才能得出正确的结果。否则检测试验数据无论是Y值或X值都将出现偏差，有的煤种甚至很大。

胶质层测定仪技术参数：

测定精度符合GB／T479-1999要求
控温范围：(0—1100)℃ 控温精度：±1O℃
测温误差：±3℃ 温度显示分辨率：1℃
定时精度：<1．25s／h 时间显示分辨率：lmin
控制功率：4kW x 2 连续工作时间：24h
记录转筒线速度：1mm／min； 线速度精度：(160±2)mm／160min
工作电源：220V±22V， 50Hz±1Hz
外形尺寸(mm)：主机：800 x400 x 580
控制器：320 x 320 x 140
重量：主机96kg，控制器7kg。可连续工作.

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